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激光檢測技術，以Z向、段差、高度尺寸檢測為主要方向 覆蓋消費類電子上下游業務領域。

漫反射激光基本原理是光學三角法： 由半導體激光器被鏡片聚焦到被測物體。反射光被鏡片收集，投射到CMOS陣列上；信號處理器通過三角函數計算陣列上的光點位置得到距物體的距離。